讲座简介：
低维半导体材料因其对称性破缺诱导的独特能带结构、强的光-物质相互作用，成为下一代光电子与自旋电子器件的核心候选材料。深入理解其各向异性的光学与光电响应，对推动高性能、功能化器件的设计与应用至关重要。
本次报告将聚焦于利用偏振分辨光学技术，系统讲述以过渡金属二硫族化合物等为代表的低维半导体材料的各向异性物理性质。主要内容包括两个方面：一是偏振分辨光电流显微研究，探讨在圆偏振光激发下由自旋-轨道耦合及贝里曲率效应驱动的本征圆偏振光电流、光致反常霍尔效应等新奇现象，揭示材料中自旋与能谷自由度耦合、调控的内在物理机制；二是微区反射差分光谱成像研究，利用这一具有超高各向异性灵敏度（10-5）的技术，实现对材料微区应力分布、晶格对称性及界面效应的纳米尺度可视化表征，为材料缺陷工程与应变调控提供关键信息。报告将结合具体研究案例，展示如何通过上述偏振光学探针，在低维半导体中实现从能谷、自旋等微观自由度到宏观光电响应的关联测量与物性调控，并展望其在新型偏振敏感光电探测器、自旋-能谷电子器件等领域的应用前景。
主讲人：张洋
主讲人简介：
张洋，男，汉族，江苏徐州人，中国矿业大学副教授，硕士生导师。长期聚焦半导体微纳器件及低维半导体材料的偏振光学性质研究，搭建了具有自主知识产权的偏振调制扫描光学显微成像系统，多波长宏观/微区偏振光电流测试系统等。在AFM、APL等知名期刊以第一或通讯作者发表SCI论文10余篇，授权发明专利3项，软件著作权2项。主持国家自然科学基金专项项目、国家自然科学基金青年项目、江苏省自然基金青年项目和徐州市重点研发计划应用基础研究项目各1项，企业横向4项，其搭建的外延片反射差分应力成像检测系统已经在江苏华兴激光科技有限公司作为检测设备使用，为企业增产上千万元。
讲座时间：01月10日 13:30
讲座地点：复旦大学江湾校区智华教学楼JA102